|
|||
| SCANcube IV 10 | |||
| Apertur | 10 mm | ||
| Winkelgeber Galvanometerscanner | analoger Positionsdetektor | ||
| Optik | |||
|
Wellenlängenbereiche (Standard) |
Standard-Coatings für alle gängigen Lasersysteme: YAG- & Faserlaser, Laser für den grünen Wellenlängenbereich, UV Laser, CO2 Laser Zusätzlich sind zahlreiche Mehrfach- und Breitbandcoatings im Portfolio |
||
|
Max. Laserleistung (Standardsysteme, 100% Betrieb) |
200 W @ 1064 nm | ||
| Typischer Auslenkwinkel | ±0,35 rad (opt.) | ||
|
Bildfeldgröße (1064 nm, f = 160 mm) |
110 mm x 110 mm | ||
| Fiber adapter | nein | ||
| Abweichung des Auslenkwinkels | < 5 mrad | ||
| Abweichung von der Nullposition | < 5 mrad | ||
| Dynamic | |||
| Anzahl installierter Tunings | 1 | ||
| Typisches Tuning | Fast-Vector-Tuning | ||
| Schleppverzug | 0,12 ms | ||
|
Beschriftungsgeschwindigkeit (f = 160 mm) |
3,0 m/s | ||
|
Positioniergeschwindigkeit (f = 160 mm) |
20,8 m/s | ||
|
Schreibgeschwindigkeit (F-Theta-Objektiv, f = 160 mm) |
|||
| hohe Schreibqualität | 700 cps | ||
| gute Schreibqualität | 950 cps | ||
|
Sprungantwort (ausgeregelt auf 1/1000 Vollausschlag) |
|||
| 1% Vollausschlag | 0,30 ms | ||
| 10% Vollausschlag | 0,80 ms | ||
| Genauigkeit | |||
|
Wiederholgenauigkeit (RMS) |
< 2 µrad | ||
|
Positionsauflösung (max.)* |
16 bit * | ||
| Nichtlinearität | < 0,7 mrad / 44° | ||
| Temperaturdrift | |||
| Offset | < 20 µrad/K | ||
| Gain | < 20 ppm/K | ||
|
8 hour drift (after 30 min warm-up) |
|||
| Offset | < 50 µrad | ||
| Gain | < 50 ppm | ||
|
24 hour drift (after 3 h warm-up) |
|||
| Offset | |||
| Gain | |||
|
* 16 Bit: bezogen auf den vollen Winkelbereich (z.B. Positionsauflösung 11 µrad für Winkelbereich ±0,36 rad)
|
|||
| Electrics / Control | |||
| Regelung Galvanometerscanner | digitale Reglerkarte | ||
|
Ansteuerschnittstelle (Alternativen) |
digital SL2-100, digital XY2-100 Standard |
||
| Erweiterte Diagnosemöglichkeiten | ja (optional) | ||
| Versorgungsspannung | 30 V DC, jeweils max. 3 A | ||
| Mechanik | |||
| Scan-Achsen | 2-Achsen-System | ||
| Gehäusevarianten | Standard: Scan-Kopf | ||
| Steckerpositionen | Strahleintrittsseite | ||
|
Größe (L x B x H) (Standardgehäuse) |
(114 x 96,5 x 101,6) mm3 | ||
|
Gewicht ohne Objektiv (Standardgehäuse) |
2,1 kg | ||
| Strahlversatz | 12,54 mm | ||
| Sonstige Ausstattung | |||
| Wasserkühlung | nein | ||
| Luftkühlung | nein | ||
| Optionen | Objektive mit optimierten Montagesätzen | ||
| Sonstige Spezifikationen | |||
|
Größe (L x B x H) (Standardgehäuse) |
(114 x 96,5 x 101,6) mm3 | ||
|
Gewicht ohne Objektiv (Standardgehäuse) |
2,1 kg | ||
| Strahlversatz | 12,54 mm | ||
| Arbeitstemperatur | 25 °C ± 10 °C | ||
| Abweichung des Auslenkwinkels | < 5 mrad | ||
| Abweichung von der Nullposition | < 5 mrad | ||
| Skew | |||
| Sprungantwort (100% Vollausschlag) | |||
| Typical Optical Configurations | |||
| Applikatonen | |||
| Typische Anwendungen |
Beschriftungsanwendungen, Materialbearbeitung in der Halbleiterindustrie, Mikrostrukturierung, Processing on the fly |
||